技术动态

Technology trends

能谱中心承办“清华大学第三十四次实验技术队伍提升计划培训交流会”

2023-07-14

2023年5月23日下午,由清华大学实验室管理处主办、国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心承办的“清华大学第三十四次实验技术队伍提升计划培训交流会”在实验室管理处会议室举行。会议以“表面化学分析技术标准化”为主题,通过线上线下结合方式进行。国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心副主任、分析中心能谱分析平台主管姚文清正高工牵头组织并主持会议,50余位校内各测试平台的实验技术人员参加了会议。

清华大学实验室管理处副处长江永亨致辞,江老师表示实验技术队伍提升计划培训交流会是开展学习交流、提升创新能力的重要途径,为不同专业和研究领域之间的技术人员交流搭建平台。实验室处将积极推进技术交流活动,助推实验技术交流团队的高质量发展。希望通过本次针对表面化学分析的专业性交流讨论,实现同行间实验技术的深入交流,促进实验技术的改进与提高,有效支撑学校的双一流建设。实验室管理处实验室建设办方驰介绍了会议组织情况,希望以此次会议为契机,加强校内相关老师的交流合作,鼓励实验技术人员参与仪器相关科研和标准制定工作,提升实验分析技术能力。姚文清介绍了能谱中心的整体概况、人才培养、国际标准与国家标准制定成果。

本次交流会邀请到表面分析化学分技术委员会三位委员,分别就其主导起草的国际标准和国家标准进行了宣贯。中国科技大学黄文浩教授针对《ISO 11039: 2012 Surface chemical analysis — Scanning-probe microscopy — Measurement of drift rate》,作了题为《扫描探针显微镜漂移率的测量》的报告,提出了三种测量漂移的校正方法。清华大学分析中心李展平高工针对《ISO/TS 22933:2022 Surface chemical analysis — Secondary ion mass spectrometry — Method for the measurement of mass resolution in SIMS》,以《二次离子质谱(SIMS)质量分辨的测量》为主题展开介绍,从原理入手,对比了不同种类仪器的二次离子质谱峰,对质量分辨进行了重新定义,规范SIMS质量分辨测量的相关工作。北京师范大学分析测试中心吴正龙教授级高工针对《GB/T 25185-2010 表面化学分析 X射线光电子能谱 荷电控制和荷电校正方法的报告》,通过介绍测试技术、经验与心得,为实验技术人员提供了X射线光电子能谱荷电控制思路与测试方法。三位专家分享了多年来在表面分析领域的经验与成果,与会人员就报告内容及实际测试问题与三位专家进行了充分的交流和探讨。



上一篇:能谱分析平台系列讲座第六讲 “扫描电镜与透射电镜原位技术”举办
下一篇:化学生物学平台建立区分聚糖结构异构体新方法获发明专利授权

关闭

推荐文章