清华大学分析中心将于下周五（2021年5月14日）下午13:30进行飞行时间二次离子质谱分析技术（TOF-SIMS）讲座：探针式膜厚测量仪（台阶仪）介绍及使用。请大家用E-mail进行预约参加。请大家将姓名、学号、导师、单位，以邮件标题“参加飞行时间二次离子质谱分析技术（TOF-SIMS）讲座-Ⅲ---探针式膜厚测量仪（台阶仪）介绍及使用”发送邮件至李芹老师（liqincup@mail.tsinghua.edu.cn）或郭冲老师（guochong1992@163.com），以回复的邮件为参加依据。

报告人：李展平

时间：2021年5月14日周五下午13:30-15:30

地点：分析中心会议室（理科楼D-203）

报告题目：探针式膜厚测量仪（台阶仪）介绍及使用

欢迎大家参加！

联系人：李芹（liqincup@mail.tsinghua.edu.cn）

郭冲（guochong1992@163.com）

清华大学分析中心飞行时间二次离子质谱分析平台

2021年5月7日