设备名称：球差校正透射电子显微镜 Spherical Aberration Corrected Transmission Electron Microscope，ACTEM
设备编号：22043690
型号：Themis Z
厂家：FEI
放置地点：清华大学理科楼D110

收费项目名称
测试机时费 校外：2400元/小时、校内：2000元/小时

1.具备聚光镜球差校正器；用于提高HR-STEM分辨率，使其达到原子级别，聚光镜球差校正优化至5阶像差
2.信息分辨率（非线性）：≤100 pm@300 kV
3.TEM点分辨率：≤200 pm@300 kV
4.STEM分辨率：≤60 pm@300 kV, 110 pm@60 kV
5.能量分辨率：0.20 eV@300 kV

1.形貌观察：对各种材料内部微结构进行二维显微形貌观察，包括常见的粉末、纳米颗粒形貌和粒径观察；配合三维重构可以得到三维立体形貌；
2.结构分析：利用选区电子衍射、高分辨透射图像、高分辨扫描透射图像等分析晶体材料的结构，包括金属、陶瓷、半导体等显微结构分析；
3.成分分析：配合能谱仪可以对样品元素做点、线、面、体分布分析，以及B(5)–Am(95)元素进行定性和半定量微区分析；可以得到原子分辨率的元素面分布图像；
4.磁场电场测量：无场环境下对磁性样品的观察，可以实现固有磁场和电场的测量；
5.电镜原位实验：选择特定设计的样品台进行多种原位动态实验，包括加热、低温、通电、通液体、电化学、力学、光学的原位测试。

IDPC积分差分相位成像技术、三维重构技术、低电压原子成像技术