联系人:李展平
房间号:理科楼D104
电话: 010-62783586
设备名称:探针式膜厚测量仪(简称台阶仪) 型号:DektakXT 厂家:BRUKER(美国) 量测范围:为0.1nm至1mm,分辨为0.1nm,测量重复性可以精确到0.5nm以内;测量精度:若台阶高度小于或等于100nm,指标为+/-2nm,若台阶高度大于100nm,指标为+/-1%。
收费项目名称 测试费 校外:200元/小时、校内:100元/小时 注:开机计时,以半小时为计量单位。
基本信息:
设备名称:探针式膜厚测量仪(简称台阶仪);型号:DektakXT;厂家:BRUKER(美国);量测范围:为0.1nm至1mm,分辨为0.1nm,测量重复性可以精确到0.5nm以内;测量精度:若台阶高度小于或等于100nm,指标为+/-2nm,若台阶高度大于100nm,指标为+/-1%。
收费标准:
收费项目名称
校外
校内
院系内
1
测试费
200元/小时
100元/小时
注:1 开机计时,以半小时为计量单位。