设备名称：冷场发射扫描电子显微镜 Cold Field Emission Scanning Electron Microscope, SEM
设备编号：16003996
型号：SU-8010
厂家：日立Hitachi
放置地点：理科楼D120

收费项目名称
形貌观察 校外：400元/小时、校内：300元/小时
注：做EDS加收60元/小时。

30KV 分辨率 1.0 nm;1KV 减速模式 分辨率1.3 nm,能谱成分分析范围：Be-U

本扫描电镜为日立经典的冷场扫描电子显微镜，具有冷场电镜高分辨率的特点，同时设备具有较高的稳定性，其高压极限分辨率为1.0 nm，具有出色的低压性能，低压加速模式可以达到1.3 nm，非常适合纳米材料、高分子材料等要求高分辨及不导电的样品；Upper探头可选择接受二次电子像或背散射电子像；同时配备了大面积高效率电制冷能谱仪，能够方便的实现材料表面成分的微观分析。

扫描电镜主要用于观察材料表面的微观形貌、断口及内部组织，并对材料表面微区成分进行定性和定量分析。常用于陶瓷、高分子、矿物、纤维、生物等无机或有机固体材料表面及断面形貌观察、元素分析，金属材料相分析、成分分析和夹杂物形态鉴定。该仪器可高分辨率观察样品表面超微结构，尤其对生物等不导电样品，无需镀膜即可实现高保真观察。