1979-1983年就读于广州中山大学物理系，获理学学士；1983-1986年就读于清华大学，获工学硕士；2004-2005年在日本东北大学，获博士学位。1986年6月-1991年4月留校任职于清华大学无线电电子学系，任助教、助理研究员。1991年6月-2005年12月赴日本ULVAC-PHI 株式会社表面分析室工作，历任俄歇电子能谱(AES)、X射线光电子能谱(XPS)、二次离子质谱(SIMS)分析实验室主事(专家)。2006年1月至今被人才引进至清华大学分析中心，任高级工程师。

目前主要利用AES、XPS、SIMS等表面分析技术从事固体材料表面分析、结构表征等研究。已发表学术论文四十多篇。获2019年度中国分析测试协会科学技术奖-CAIA奖一等奖，2020年中国标准创新贡献奖二等奖。所负责的飞行时间二次离子质谱TOF.SIMS5获得2019年度清华大学大型仪器效益一等奖。是全国微束标准化技术委员会表面分技术委员会专家委员；国际标准化组织ISO/TC201/SC6专家组成员。

目前主要负责飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）机组的管理、运行工作。