基本信息：
设备名称：高分辨场发射透射电子显微镜 High Resolution Field Emission Transmission Electron Microscope，HRTEM
设备编号：16003997
型号：JEM-2100F
厂家：日本电子
放置地点：清华大学理科楼D119房间
收费标准：
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收费项目名称 |
校外 |
校内 |
院系内 |
1 |
自主上机机时费 |
800元/小时 |
600元/小时 |
300元/小时 |
2 |
送样测试费 |
800元/小时 |
600元/小时 |
450元/小时 |
技术参数：
1.点分辨率：0.19nm
2.线分辨率：0.14nm
3.加速电压：80, 100, 120, 160, 200kV
4.倾斜角：25度
5.STEM分辨率：0.20nm
主要特点：
1.高亮度场发射电子枪。
2.束斑尺寸小于0.5nm。
3.新式侧插测角台，更容易倾转、旋转、加热和冷冻，无机械飘移。
4.稳定性好、操作简便。
5.微处理器和PC两套系统控制，防止死机。
功能特色：
具备明场像、暗场像、衍射像和 STEM像，配备了牛津能谱仪，可以对样品进行点、线、面的能谱分析。配备等离子清洗仪可以有效改善样品积碳问题。配备Gatan 626 单倾冷冻传输杆系统，可以对不耐辐照样品进行一定量改善。
应用领域：
JEM-2100F 应用广泛，从材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体到纳米技术。利用200kV场发射透射电镜JEM-2100F，不仅可实现超高分辨率图像的观察，同时，还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息。高亮度的场发射电子枪，轻松实现各种分析功能。
