清华大学分析中心能谱分析平台XPS（X射线光电子能谱仪）的附加功能REELS（反射式电子能量损失谱）和ISS（离子散射谱）现已开放，欢迎有相关需求的师生和科研工作者咨询、预约使用。

REELS的基本原理

REELS（ Reflected Electron Energy Loss Spectroscopy）即反射式电子能量损失谱。电子在材料表面发生散射，对于大部分原子来说，因为其质量远远大于电子，电子基本上不损失能量而散射。H因为其原子质量相比于其他原子要小的多，电子与其发生碰撞损失部分动能，使得H可以被检测到，电子的能级跃迁（震激）也可以在这个散射过程中被激发，增加REELS功能可以用于电子能级轨道跃迁的探测和H元素含量的检测。

REELS案例

1：OLED材料的价带能级结构表征

2：储氢材料/含氢聚合物中的H含量检测

ISS的基本原理

ISS（Ion Scatter Spectroscopy） 即离子散射谱。利用具有特 定能量的氦离子和原子核相互作用来探测样品成分。ISS是XPS技术的一项补充，十分表面敏感，基本上只探测最表面1-2个原子层的元素信息。一般用来观测样品最表面信息，如单层覆盖率以及元素表面偏析等等。

ISS案例最表面成分分析