为帮助同学们更好的理解和应用飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）技术，分析中心于2022年9月14日和29日分别举办了“飞行时间二次离子质谱分析技术及其应用”讲座和操作培训。

李展平高工就TOF-SIMS技术的基本原理、主要功能和应用做了详细讲解，结合项目案例介绍了TOF-SIMS技术在各学术研究领域的最新应用和研究进展。会议采用线上和线下相结合的方式，119人参加了讲座并进行了充分的交流和探讨。

郭冲工程师从分析测试的制样方法、进出样操作方法、数据处理软件使用方法、仪器使用注意事项等方面进行了细致的介绍，并演示了具体的操作过程。同时，向参加培训的学生并分享了测试经验，大家纷纷表示收获满满。

“飞行时间二次离子质谱分析技术及其应用”讲座和操作培训受到师生广泛好评，大家对飞行时间二次离子质谱的原理、特点和应用有了更深入的认识，自主操作能力也得到进一步提高。本次技术培训为中心今后逐步加强仪器设备的开放力度、加大大型仪器设备深度共享奠定了良好的基础。